跌落試驗(yàn)適用標(biāo)準(zhǔn)

 GB/T 4857.5-92; 代替GB4857.5-84本標(biāo)準(zhǔn)等效采用ISO2248-1985《包裝——完整、滿裝的運(yùn)輸包裝件——垂直沖擊跌落試驗(yàn)》本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對運(yùn)輸包裝件垂直沖擊試驗(yàn)時所用試驗(yàn)設(shè)備的主要性能要求、試驗(yàn)程序及試驗(yàn)報告的內(nèi)容。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于評定運(yùn)輸包裝件在受到垂直沖擊時的耐沖擊強(qiáng)度及包裝對內(nèi)裝物的保護(hù)能力。它既可以作為單項(xiàng)試驗(yàn)，也可以作為一系列試驗(yàn)的組成部分。

跌落測試

本試驗(yàn)通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。

對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

跌落測試產(chǎn)品范圍：

1.計算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等

2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等。

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備；

4.其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。